

Glass Substrate
QI-16K 1.43x F8/EFL110은 16K 라인 스캔 카메라와 완벽히 호환되는 고정밀 렌즈로, 평판 디스플레이 패널과 TGV(Through Glass Via) 공정에서 미세 결함까지 빠르고 정확하게 검출합니다. 고해상도 이미징을 통해 불량률을 낮추고, 생산 라인의 정밀도를 높입니다.
16k / 5μm 라인 스캔 카메라용 설계
1.43배 배율에 최적화
파장 범위 410nm~700nm에 최적화
회절 한계 설계
레트로-쉴러렌 동축 조명 호환 설계
FPD(평판 디스플레이) 검사
PCB 검사
투명 재료의 미세 결함 탐지
AOI(자동 광학 검사)
항목 | 사양 | 비고 |
---|---|---|
센서 | 16K 라인 스캔 | 5μm, 16384x1 |
최대 센서 크기 | 82mm | |
확대 배율 | X1.43 | |
유효 초점 거리 | 110mm | |
F/# | F5.6/F8 | |
NA | 0.09 / 0.063 | |
시야(FOV) | 57.3 x 0.01 | |
픽셀 해상도 | 3.5μm | |
초점 심도 | 78μm | |
총 길이 | 455mm | |
물체 거리 | 238.39mm | |
이미지 거리 | 146.9mm | |
왜곡 | <0.03% | |
파장 | 410-700nm | 모든 파장 가중치 = 1 |
광학 유형 | 레트로 쉴러렌 |